【大会介绍】
电子显微学网络会议（iConference on Electron Microscopy,iCEM）由仪器信息网于2015年在业内首次发起，旨在促进中国电子显微学领域仪器技术及前沿科学研究的发展，利用互联网技术为国内的广大电子显微学科研及相关工作者提供一个突破时间地域限制的免费学习平台，让大家足不出户便能聆听到电子显微学专家的精彩报告，节省时间和资金成本。2021年6月22-25日，仪器信息网(www.instrument.com.cn) 继续组织举办“第七届电子显微学网络会议(iCEM 2021)“。
Delmic的应用专家们将在此次电子显微学网络会议中带来两场精彩报告。Sangeetha Hari博士将在在24日的“电子显微学技术在材料领域应用“专场作有关阴极发光应用的报告，Caspar Jonker 博士和Guido Ridolfi博士将于25日在”电子显微学技术在生命科学领域应用“主题专场带来有关快速电镜成像和冷冻电镜的报告。欢迎大家届时参与我们的报告专场，并就嘉宾的报告提问讨论！
阴极发光成像技术的发展及其在表征半导体材料研究中的作用
报告嘉宾：Sangeetha Hari博士
时间：6月24日下午三点
【报告简介】
阴极发光(CL)是一种多功能技术，用于研究具有深层亚波长分辨率的光学特性。阴极荧光光谱是一个强大的成像工具，用于探究和了解半导体的许多有趣关键属性，无论是块体还是微/纳米结构的形式。在本篇报告中，Sangeetha Hari 博士将介绍用于在扫描电子显微镜中进行阴极发光成像的硬件和成像方法，并讨论其在半导体领域的最新应用成果。
Delmic多束体电子显微镜和用于冷冻电子断层扫描的冷冻关联电镜：加速您在纳米层面上对生物系统的了解
报告嘉宾：Caspar Jonker博士，Guido Ridolfi博士
时间：6月25日下午三点
【报告简介】
该报告将展示两个一体化扫描电镜方案。首先，Caspar Jonker博士将通过展示集成式冷冻关联电镜METEOR和ENZEL解释如何提高冷冻电子断层扫描的成功率，以指导薄切片的原位研磨，提高研磨精度，并验证感兴趣区域。其次，Guido Ridolfi博士将通过演示各种组织的高通量成像，解释FAST-EM多束体电镜系统将如何帮助你以100倍的速度从大型生物样品中获得详细的分子信息。
【嘉宾简介】
Caspar Jonker在荷兰乌特勒支大学Judith Klumperman的小组完成了他的博士学位。在那里，他接受了免疫电镜和光电关联显微镜（CLEM）的培训，研究内溶酶体系统中系带复合物的作用。之后，他在美国纽约康奈尔医学院做博士后，与Enrique Rodriguez-Boulan一起使用高速定量活细胞荧光显微镜研究内细胞回收途径。在Delmic公司，Caspar作为应用专家，专注于研究冷冻电子断层扫描（Cryo-ET）和冷冻关联电镜（cryo-CLEM）的解决方案，以及它们在结构和细胞生物学领域的应用。
Guido Ridolfi于2008年在意大利都灵理工大学获得航空工程硕士学位，并于2012年在荷兰代尔夫特理工大学获得空间工程博士学位。他在早期从事管理战略创新、技术和产品开发，在能源领域中的某大型跨国组织担任全球产品经理。2020年，Guido获得了伊拉斯谟大学鹿特丹管理学院的商业和管理硕士学位，之后加入Delmic，担任Delmic快速电镜成像部门的主管，负责管理该部门的损益、应用和产品开发。
立即报名参与iCEM2021，与我们的专家面对面交流最新的电镜技术发展！