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新品发布 | CERES冰防御系统(CERES Ice Defence System),最小化冷冻样品冰污染的强大工具组

Delmic无比荣幸地向您介绍全新的冷冻电子显微镜(cryo-EM)解决方案 -- CERES冰防御系统(CERES Ice Defence System),旨在帮助您获得最高质量的冷冻电镜样品,并获得更高的通量和世界级的实验结果。CERES Ice Defence System由一系列的创新工具组成,可搭配或独立使用于您的冷冻电镜工作流程的每一步:从样品制备、转移到最终生成样品。我们致力于将每一步的冰污染都将降至行业最低!

大量研究人员表示,在当前的冷冻样品制备流程中,他们很难完全避免珍贵的样品遭受冰污染。事实证明,40%的冷冻样品会被结晶冰污染, 而43%的研究人员更是在冷冻电镜样品已经在透射电镜中成像时才发现样品早已被污染。

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在与多位行业专家和德国多特蒙德马克斯-普朗克分子生理学研究所的顶级研究人员的合作中,我们创造了这一系列的强大工具来完美应对这一大挑战。CERES冰防御系统(CERES Ice Defence System)由CERES Clean Station(清洁工作站)、CERES Vitri-Lock(高真空冷冻转移器)和CERES Ice Shield(冰盾),这三个创新工具组合使用将为您的冷冻样品提供最大程度的保护,确保您的冷冻电镜工作流程的每一步都有最少的冰污染。CERES Ice Shield旨在为您的冷冻电子断层扫描工作流程扫清障碍,以获得更高质量的冷冻电镜数据成果、更高的通量和更高的分辨率。

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CERES Ice Defense System的原型是由多特蒙德马克斯-普朗克分子生理学研究所(MPI)所长Stefan Raunser教授博士团队研发的。Delmic秉承着创造一个更健康美好世界的使命,十分荣幸能将这项学术研究成果推向市场,让全世界在冷冻电镜领域工作的研究人员都能使用!

CERES Clean Station(清洁工作站)

CERES_Product_Slider_VideoSize_CleanStation为了防止被污染的液氮在样品上沉积冰晶,CERES Clean Station的精巧设计为样品制备提供低于1%湿度(1ppm的水汽含量)的环境。有了这个节省空间的完美环境来保障冷冻样品的安全,您将再也不会面对已经对样品投入大量时间精力,而最终样品却被冰污染直至无法使用的困境。此外,由于CERES Clean Station采用了人性化的孔状手套设计,在处理脆弱的样品时也能保证您操作的高度灵活性。 

CERES Vitri-Lock(高真空冷冻转移器)

CERES_Product_Slider_VideoSize_Vitri-Lock根据我们最近的调查,一半的研究人员认为样品转移过程中的冰晶生长是研究中的最大困扰。为了确保您的冷冻样品在所有转移过程中保持玻璃化,您可以使用CERES Vitri-Lock,一款高真空冷冻转移器(HVCT),它能够确保冷冻样品在样品制备站、荧光显微镜(FLM)、扫描电子显微镜(SEM)和透射电镜(TEM)之间每一次的转移都安全无污染。此外,CERES Vitri-Lock可保证长达30分钟的安全转移时间,与其他市面上的冷冻转移器相比,这是一个有绝对优势的 "冷冻时长"。因此,它能确保您的样品在足够长的转移过程中持续保持玻璃化,让您再也不用在不同的操作平台之间匆忙奔走。

CERES Ice Shield (冰盾)

CERES_Product_Slider_VideoSize_IceShield13%的研究人员表示,他们的样品在铣削过程中也会出现寄生冰的生长,而这大大降低了所得数据的质量。然而,目前主要的冷冻扫描电镜供应商都接受一定程度的冰污染率,寄生冰生长造成的压力也因此一直在研究人员自己肩上。我们的CERES Ice Shield正是一项能够完美释放您压力的专利技术,它配备了一个冷冻shutter、一个冷冻防护罩(shield)和一个自动补液系统,通过在靠近冷冻样品的地方提供了一个更冷的金属表面,防止样品室中的任何残留水分凝结在样品上。在扫描电镜腔室中为铣削过程中的样品提供终极保护,将冰污染率降低10倍以上,因此,您可以在第一个薄切片被冰覆盖之前制备更多的薄片。无需急于进行样品铣削的过程:您甚至可以将薄切片留在冷冻扫描电镜中过夜,而不必担心寄生冰的生长。

每位科学家都知道,获得高质量数据的关键是要有好的样品。在样品上或样品中形成的结晶冰会使感兴趣的区域变得模糊不清,并大大降低冷冻电镜数据的质量。因此,CERES冰防御系统的诞生就是为了给您的冷冻电镜工作流程扫清因冰污染而受阻的一切障碍。

通过将CERES Ice Defense System的三件工具一起或分开投入使用,您可以期待在整个冷冻电镜工作流程中获得更高质量的冷冻数据和更高的冷冻电子断层扫描通量。

This work is supported by the European SME2 grant № 879673

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冷冻电镜解决方案ceres

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Jingyue Liu