作为一项高新成像技术，冷冻电子断层扫描（cryo-ET）可以获得细胞内的细胞器和蛋白质复合物在其接近原生的细胞环境中的高分辨率三维结构。这项技术已经显示出巨大的潜力，用于提高我们对复杂生物过程的理解。
然而，这种技术虽强大，却也十分复杂。目前，样品制备方法是一个主要的瓶颈，减缓了整个工作流程。我们邀请您参加Delmic的首次冷冻电镜中文网络研讨会”Delmic一体化冷冻电镜技术，释放冷冻电子断层扫描的巨大潜力“，了解冷冻电子断层扫描工作流程当前的主要挑战，并讨论如何使用Delmic的最新一体化冷冻电镜技术来优化这一过程。
我们的亚洲区销售经理窦媛瑞将简要介绍当前冷冻样品制备所涉及的所有步骤，特别是冷冻荧光显微镜（cryo-FLM）在其中的应用。冷冻荧光显微镜在冷冻断层电子扫描工作流程中起着重要作用，因为它可以确定感兴趣的区域（ROI），以便进一步进行聚焦离子束（FIB）研磨。然而，引入荧光显微镜确实会增加复杂的转移步骤，使整个工作流程更加容易出错。在网络研讨会上，我们将介绍Delmic的集成式冷冻荧光显微镜METEOR，并讨论METEOR如何简化您的薄切片制备的工作流程，以显著提高您的样品产量。同时，我们也将展示使用METEOR所获得的高分辨率数据，以及如何获取这些荧光显微镜数据。
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This work is supported by the European SME2 grant № 879673