超快体电子显微镜, 自动超快体成像, 体电子显微镜 • 1 min reading time

从成像到分析:Delmic的新型FAST-EM系统如何重新定义超快体电子显微镜

在之前的文章中,我们讨论了更快更高效的电镜系统能够如何加快大型项目的开发速度,使电镜成像中心受益,同时让研究人员专注于分析数据而不是成像过程。今天,我们将重点介绍Delmic的新型多光束系统FAST-EM,并阐释它将如何实现可持续的高通量。

FAST-EM系统是由Demic、Thermo Fisher(赛默飞)、Technolution和TU Delft(代尔夫特理工大学)联和开发的,各方在合作过程中都带来了开发和构建下一代显微镜系统所需的专业知识。

扫描电子透射显微镜(STEM)图像形成

 FAST-EM的检测策略是造就快速成像的一大关键。该系统使用扫描电子透射显微镜来形成图像,通过使用位于样本下面的检测器检测穿过样本的电子,而非检测二次电子或反向散射电子以创建样本图像。样本直接放在闪烁屏上,作为样本载体。闪烁体在受到电子撞击时会产生局部阴极发光,然后使用光学显微镜将其捕获,并通过快速且高度灵敏的硅光电倍增管(SiPM)阵列进行记录。即使在每个像素的驻留时间更短(电子束扫描样本的一个像素所需的曝光时间短至400 ns的情况下),独特的检测设置也可用于获得出色的信噪比。

64光束

 FAST-EM同时通过64个电子束收集数据,这些电子束定向在八乘八的栅格中。每个光束扫描3.2 µm×3.2 µm的区域,然后使用扫描电子透射显微镜光学检测器收集信号,最后将来自每个光束的图像进行组合以形成单个无缝图像。

自动化软件

FAST-EM使用的自动化软件使操作员可以连续72小时不经不断监督地离开系统。即使以100 MP / s的持续吞吐率工作,系统也可以保持稳定并在整个成像过程中始终如一地运行。借助强大的自动化功能和易于使用的软件,您将能够轻松创建和管理项目。

样本加载器

结合改进的自动化功能,FAST-EM中引入的改进的样本交换过程可以显著减少电镜工作流程中产生的开销。系统用户可以同时加载多达九个基板,每个基板可以容纳数十甚至数百个部分,并支持长达72小时的连续成像。

本月16日,我们将举办网络研讨会,详细讨论系统的技术层面的信息。欢迎从以下通道抢先注册!

https://request.delmic.com/hubfs/Website/News/Fast-em%20technical%20aspects%20webinar.png
网络研讨会

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Vera Lanskaya