什么是时间分辨阴极发光成像？进行光子寿命探测（lifetime mapping）或者二次相关性研究（g2 analysis）能如何为您的研究增加价值？在下面的视频中，Delmic的产品经理Toon Coenen对这种成像技术及其应用进行了解释。

时间分辨的阴极发光是一种查看阴极发光发射过程的时间动态的技术。Toon在视频中着重介绍了两种主要的成像类型：lifetime成像（用于光子寿命探测）和g 2成像（用于二次相关性研究）。他解释了如何进行这两种成像技术。光子寿命取决于材料在被电子束激发后如何发生发光过程，而g（2）成像能反映从材料发出的光子如何及时分布的信息。例如，告诉我们同时找到两个光子的概率。目前，这两种技术都已经有广泛的应用，并且在光子学、材料科学、地质学乃至生物学等领域具有重要价值。例如，光子寿命与材料质量密切相关，因此您可以通过进行光子寿命探测表征材料并确定其性能。二次相关性研究可用于查看量子发射器，而且具备可以使用连续电子束来操作的优势。

Delmic开发的SPARC高性能阴极发光探测器，提供了用于进行时间分辨成像的硬件和软件。 SPARC系统的模块化设计为成像提供了多种可能性。它拥有两个光学模块，用于在从NIR（通过可见光）到UV的整个波长范围内进行测量。 SPARC还提供了一系列其他的测量方法，例如：快速的全色和彩色滤光PMT成像、光谱学、偏振法，通过光纤的光耦合以及用于更专业应用的显影模块。

SPARC的集成设计使您可以获取高质量的时间动态数据，从而可以研究固有的材料特性以及局部状态密度（LDOS）。例如，有关载流子动力学的信息对于设计光电器件的半导体材料非常有价值。时间分辨阴极发光成像将跟踪纳米级光子寿命过程的能力与高分辨率电子显微镜的功能相结合，因此是一项用于表征纳米级材料和光学动态的出色技术。

如果您有兴趣了解有关SPARC系统的光学模块及其可能性的更多信息，我们建议您下载其技术说明: