--- title: 论文解读 | 具有噪声控制的图像重建的结构化照明显微镜 description: 快速了解牛津大学、代尔夫特理工大学以及鲁汶大学的研究人员近期在《Nature Methods》上发表的有关结构化照明显微镜与具有噪声控制的图像重建的研究成果。 image: https://blog.delmic.com/hubfs/social-suggested-images/blog.delmic.comhubfsWebsiteNewsTU%20Delft%20paper.png --- ###### [company news](https://blog.delmic.com/cn-news/tag/company-news), [公司新闻](https://blog.delmic.com/cn-news/tag/公司新闻) • 1 # 论文解读 | 具有噪声控制的图像重建的结构化照明显微镜 [Vera Lanskaya August 3, 2021](https://blog.delmic.com/cn-news/author/vera-lanskaya) ![](https://blog.delmic.com/hs-fs/hubfs/social-suggested-images/blog.delmic.comhubfsWebsiteNewsTU%20Delft%20paper.png?width=1080&name=blog.delmic.comhubfsWebsiteNewsTU%20Delft%20paper.png) uary 1, 1970 来自代尔夫特理工大学、牛津大学、伊拉斯谟医学中心和鲁汶大学的研究人员最近在《Nature Methods》杂志上发表了一篇名为 "具有噪声控制的图像重建的结构化照明显微镜 "的新论文。 在这项研究中，作者研究了**超分辨率结构化照明显微镜（SIM）**中的重建算法和限制其对低信噪比数据适用性的噪声特定工件，使用了在扫描电镜中纳米制造的高分辨率荧光结构。他们在研究结果中提出了一个物理上能够实现的噪声模型，解释了结构性噪声伪影。作者提出的方法，可以通过消除特设的用户可调整的重建参数来帮助提高客观性，支持物理参数。 超分辨率结构化照明显微镜（SIM）被广泛用于生物成像，因为它提供了更高的空间分辨率和具有强烈对比度的光学切片。然而，目前的图像重建方法依赖于特设的可调整参数，容易受到各种类型的伪影的影响。此研究的目的是设计优化对比度或自然噪声外观的方法，并消除特设的重建参数，并因此使SIM图像中的物体表现尽可能客观。 该论文的作者提出了三种新的、互补的SIM图像重建方法，建议使用**True-Wiene**r重建法作为默认方法，因为这种方法在对比度、分辨率和噪声曲线之间提供了最佳的整体折衷。**True-Wiener**滤波方法也可以应用于宽视场成像、扫描显微镜方法，并且可以扩展到晶格光片显微镜和断层成像模式。作者总结说，光谱信噪比的使用和具有平坦噪声频谱的图像表现的生成，开辟了无偏差的方法来评估任何超分辨率或解卷积方法的相对优势。   点击[此处](https://www.nature.com/articles/s41592-021-01167-7)查看英文原版论文！ 图片来源: Smith, C.S., Slotman, J.A., Schermelleh, L. et al. Structured illumination microscopy with noise-controlled image reconstructions. Nat Methods 18, 821–828 (2021). https://doi.org/10.1038/s41592-021-01167-7 #### Vera Lanskaya [![](https://blog.delmic.com/hs-fs/hubfs/Website/News/2021_CL_Webinar_LED%20and%20Single-photon%20devices_Website.png?width=380&name=2021_CL_Webinar_LED%20and%20Single-photon%20devices_Website.png) ](https://blog.delmic.com/cn-news/webinar-cathodoluminescence-imaging-for-led-and-single-photon-devices) [###### company news ## 注册英文研讨会：阴极发光在LED和单光子器件研究中的应用 广泛应用于材料科学研究中的阴极发光成像（CL）可以为我们提供关局部缺陷和光发射特性的信息。参与11月举办的CL英文网络研讨会，加入此应用讨论！ ](https://blog.delmic.com/cn-news/webinar-cathodoluminescence-imaging-for-led-and-single-photon-devices) [![](https://blog.delmic.com/hs-fs/hubfs/Website/News/Chinese%20CL%20Webinar%203_Banner_Blogpost.png?width=380&name=Chinese%20CL%20Webinar%203_Banner_Blogpost.png) ](https://blog.delmic.com/cn-news/the-third-chinese-cl-webinar-series-2021-nanophotonics) [###### company news ## 注册阴极发光原理及应用实例（中文）系列研讨会，第三期：探测纳米光子结构，研究纳米级光学现象 广泛应用于等离激元光子学研究中的阴极发光成像（CL）可以为我们提供关于电磁态局部密度的信息，是纳米光子学研究中非常有效的技术。参与下一期CL网络研讨会，加入此应用讨论！ ](https://blog.delmic.com/cn-news/the-third-chinese-cl-webinar-series-2021-nanophotonics) [![](https://blog.delmic.com/hs-fs/hubfs/Website/News/PKU%20paper%20website.png?width=380&name=PKU%20paper%20website.png) ](https://blog.delmic.com/cn-news/new-paper-selectively-steering-photon-spin-angular-momentum-via-electron-induced-optical-spin-hall-effect) [###### company news ## 学术新论著 | 北大研究人员在《Science Advance》上发表最新研究成果 注册全国网络电镜会iCEM2021，参与Delmic应用专家带来的有关各方面电镜发展的精彩报告！ ](https://blog.delmic.com/cn-news/new-paper-selectively-steering-photon-spin-angular-momentum-via-electron-induced-optical-spin-hall-effect)