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注册英文研讨会:阴极发光在LED和单光子器件研究中的应用

广泛应用于材料科学研究中的阴极发光成像(CL)可以为我们提供关局部缺陷和光发射特性的信息。参与11月举办的CL英文网络研讨会,加入此应用讨论!

阴极发光(CL)是材料在电子的激发下发出的光。在不同的材料中,导致CL发射的过程都不同,因此阴极发光成像是研究这些过程的一种强大技术。在扫描电子显微镜(SEM)中进行的CL成像是一种用途广泛的技术,用于研究具有深亚波长分辨率的光学特性。除了强度测绘,先进的成像模式,如光谱学、角度分辨成像和偏振测量等,都被用来了解各种材料的物理特性和研究器件性能。

在这次网络研讨会上,我们的应用专家Sangeetha Hari将重点介绍用于表征LED和单光子设备的CL成像。她将展示应用实例所获得的定量可比数据,以及CL对LED进行从深紫外到红外的表征结果。参加网络研讨会,了解如何使用CL成像技术对LED和单光子器件的局部缺陷和光发射特性进行成像

Cathodoluminescence imaging for LED and single-photon devices 

时间:11月24日,晚12点(北京时间)

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阴极发光探测器SPARC Spectral规格说明

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Jingyue Liu