--- title: 注册英文研讨会：阴极发光在LED和单光子器件研究中的应用 description: 我们十分激动在下一期的英文研讨会—阴极发光在LED和单光子器件研究中的应用—中与大家一同探讨阴极发光在纳米光子学研究中的应用！ image: https://blog.delmic.com/hubfs/Website/News/2021_CL_Webinar_LED%20and%20Single-photon%20devices_Website.png --- ###### [company news](https://blog.delmic.com/cn-news/tag/company-news), [公司新闻](https://blog.delmic.com/cn-news/tag/公司新闻) • 1 # 注册英文研讨会：阴极发光在LED和单光子器件研究中的应用 [Jingyue Liu October 15, 2021](https://blog.delmic.com/cn-news/author/jingyue-liu) ![](https://blog.delmic.com/hs-fs/hubfs/Website/News/2021_CL_Webinar_LED%20and%20Single-photon%20devices_Website.png?width=1080&name=2021_CL_Webinar_LED%20and%20Single-photon%20devices_Website.png) 广泛应用于材料科学研究中的阴极发光成像（CL）可以为我们提供关局部缺陷和光发射特性的信息。参与11月举办的CL英文网络研讨会，加入此应用讨论！ 阴极发光（CL）是材料在电子的激发下发出的光。在不同的材料中，导致CL发射的过程都不同，因此阴极发光成像是研究这些过程的一种强大技术。在扫描电子显微镜（SEM）中进行的CL成像是一种用途广泛的技术，用于研究具有深亚波长分辨率的光学特性。除了强度测绘，先进的成像模式，如光谱学、角度分辨成像和偏振测量等，都被用来了解各种材料的物理特性和研究器件性能。 在这次网络研讨会上，我们的应用专家Sangeetha Hari将重点介绍用于表征LED和单光子设备的CL成像。她将展示应用实例所获得的定量可比数据，以及CL对LED进行从深紫外到红外的表征结果。参加网络研讨会，了解如何使用CL成像技术对LED和单光子器件的局部缺陷和光发射特性进行成像。 **Cathodoluminescence imaging for LED and single-photon devices**  **时间：11月24日，晚12点（北京时间）** 通过填写以下表格，可即刻注册! ( 注意：QQ邮箱无法完成平台注册)   我们推荐您关注我们的微信公众号，定期接收更多有关阴极发光的最新论文，应用和研讨会信息！ ![](https://blog.delmic.com/hs-fs/hubfs/undefined.jpeg?width=116&name=undefined.jpeg)   ![https://request.delmic.com/hubfs/Website%20Content%20Offers/Publications/publications_resourcelibrary__CL_380x215.png](https://blog.delmic.com/hs-fs/hubfs/Website%20Content%20Offers/Publications/publications_resourcelibrary__CL_380x215.png?width=227&name=publications_resourcelibrary__CL_380x215.png) ###### 阴极发光探测器SPARC Spectral规格说明 ## 了解Delmic的阴极发光成像技术及SPARC Spectral产品特性 [![立即阅读](https://no-cache.hubspot.com/cta/default/1767973/e2ff996e-4111-4b95-975a-2542446510f3.png)](https://cta-redirect.hubspot.com/cta/redirect/1767973/e2ff996e-4111-4b95-975a-2542446510f3) #### Jingyue Liu [![](https://blog.delmic.com/hs-fs/hubfs/Website/News/Chinese%20CL%20Webinar%203_Banner_Blogpost.png?width=380&name=Chinese%20CL%20Webinar%203_Banner_Blogpost.png) ](https://blog.delmic.com/cn-news/the-third-chinese-cl-webinar-series-2021-nanophotonics) [###### company news ## 注册阴极发光原理及应用实例（中文）系列研讨会，第三期：探测纳米光子结构，研究纳米级光学现象 广泛应用于等离激元光子学研究中的阴极发光成像（CL）可以为我们提供关于电磁态局部密度的信息，是纳米光子学研究中非常有效的技术。参与下一期CL网络研讨会，加入此应用讨论！ ](https://blog.delmic.com/cn-news/the-third-chinese-cl-webinar-series-2021-nanophotonics) [![](https://blog.delmic.com/hs-fs/hubfs/social-suggested-images/blog.delmic.comhubfsWebsiteNewsTU%20Delft%20paper.png?width=380&name=blog.delmic.comhubfsWebsiteNewsTU%20Delft%20paper.png) ](https://blog.delmic.com/cn-news/new-paper-structured-illumination-microscopy-with-noise-controlled-image-reconstructions) [###### company news ## 论文解读 | 具有噪声控制的图像重建的结构化照明显微镜 uary 1, 1970 来自代尔夫特理工大学、牛津大学、伊拉斯谟医学中心和鲁汶大学的研究人员最近在《Nature Methods》杂志上发表了一篇名为 "具有噪声控制的图像重建的结构化照明显微镜 "的新论文。 ](https://blog.delmic.com/cn-news/new-paper-structured-illumination-microscopy-with-noise-controlled-image-reconstructions) [![](https://blog.delmic.com/hs-fs/hubfs/Website/News/PKU%20paper%20website.png?width=380&name=PKU%20paper%20website.png) ](https://blog.delmic.com/cn-news/new-paper-selectively-steering-photon-spin-angular-momentum-via-electron-induced-optical-spin-hall-effect) [###### company news ## 学术新论著 | 北大研究人员在《Science Advance》上发表最新研究成果 注册全国网络电镜会iCEM2021，参与Delmic应用专家带来的有关各方面电镜发展的精彩报告！ ](https://blog.delmic.com/cn-news/new-paper-selectively-steering-photon-spin-angular-momentum-via-electron-induced-optical-spin-hall-effect)