Delmic 新闻中心

阴极发光（CL）是一种用于研究具有深亚波长分辨率的光学特性的通用技术。 不同的CL成像模式可以帮助我们更加全面地了解有关块状和微/纳米结构半导体材料的特性。欢迎参与阴极发光系列研讨会第二期，了解如何将阴极发光有效应用于半导体材料的研究中！

Delmic无比荣幸地向您介绍全新的冷冻电子显微镜（cryo-EM）解决方案 -- CERES冰防御系统（CERES Ice Defence System），旨在帮助您获得最高质量的冷冻电镜样品，并获得更高的通量和世界级的实验结果。CERES Ice Defence ...

在METEOR推出后，我们仍致力于研究如何进一步升级冷冻电子断层扫描（cryo-ET）的一体化解决方案，通过最大限度地提高冷冻电子断层扫描工作流程的效率来更好地满足您的需求。现在，我们很高兴首次向您介绍两款即将推出的一体化冷冻电子断层扫描解决方案，ENZEL和MIMAS。

步入2021，为了进一步帮助我们的全球华人顾客了解最先进强大的阴极发光成像技术，以及如何将其真切地应用于您自身的研究中，我们即将在三月开始首次举办Delmic的中文系列研讨会： 2021阴极发光原理及应用实例！

12月16日，Delmic参与了由国家蛋白质科学研究（北京）北大分中心、北京大学生命科学学院和赛默飞世尔公司共同主办，中国生物物理学会冷冻电子显微学分会承办的2020年蛋白质冷冻电子断层扫描三维重构技术应用研讨会。

上个月，瑞士联邦材料试验和科研研究所（EMPA）和苏黎世联邦理工学院（ETHZ）的研究人员在Small上发表一篇名为'Correlative Cathodoluminescence Electron Microscopy: Immunolabeling Using Rare-Earth Element Doped ...

FAST-EM，一台创造了根本性转变的电子显微镜，实现前所未有的大面积纳米级成像，同时为操控人员腾出时间专注于数据分析和注释。

Delmic很高兴地宣布我们在亚洲时区的重要支持中心Delmic Asia正式成立！

Delmic的首个上市冷冻电镜产品METEOR就在上周举行了全球发布演示会，现在您还可以通过下载METEOR的首篇技术说明深入了解其光路构造和组件！

Delmic将在由中国科学院半导体研究所、仪器信息网联合主办的首届“半导体材料与器件研究与应用”网络会议中作有关“阴极发光最新技术在半导体领域中应用”的报告！本月15日下午2点，我们期待与您的面对面交流！

Delmic的首个一体化冷冻光电关联成像系统METEOR将于10月28日正式向公众推出！伴随着此次正式的产品发布，我们将在发布日首次举办全方位的在线产品演示，旨在为您提供一种完全身临其境的在线体验，使您能够从各个角度了解METEOR的性能及应用。

率先了解METEOR的超强功能：最小化样本转移步骤，并扩大样本产量！